多功能磁粉探傷儀型號：CDX－III

多功能磁粉探傷儀型號：CDX－III

一、概述

CDX－III磁粉探傷儀是我公司吸收國內(nèi)外同類產(chǎn)品的優(yōu)點自行設(shè)計生產(chǎn)的新型磁粉探傷設(shè)備。采用外加磁場磁化法，使儀器具有體積小、重量輕等優(yōu)點。集成化電路使一臺設(shè)備兼?zhèn)湓瓗追N設(shè)備的全部功能。

功能選配：

?A型探頭：也稱馬蹄磁軛探頭或角焊縫探頭，活動關(guān)節(jié)斜面磁頭,配有工作燈;對異形面、形狀復雜工件探傷尤其.距:20-160㎜;提升力:AC≥5㎏,DC≥18㎏;重量:1㎏。利用這種探頭制成一臺設(shè)備叫馬蹄形磁軛探傷儀或角焊縫探傷儀，探頭利用活關(guān)節(jié)使用范圍廣。

?D型探頭：也稱電磁軛探頭，多種活動關(guān)節(jié)，磁化強度大。距：60-220㎜，提升力：AC≥7㎏，DC≥18㎏；重量：1.6㎏.獨立利用這種探頭制成的設(shè)備叫電磁軛探傷儀，探頭具有導磁高、磁化強度大等特點。

?E型探頭：也稱交叉磁軛探頭或旋轉(zhuǎn)磁場探頭，可一次復合磁化探傷,行走滾輪和工作燈可提升探傷速度.距:110㎜,提升力:AC≥12㎏,重量:2㎏.獨立利用這種探頭制成一臺設(shè)備叫旋轉(zhuǎn)磁場探傷儀，它利用兩只交叉的磁軛采用交流電移相技術(shù)，使之產(chǎn)生隨時間變化的合成旋轉(zhuǎn)磁場，對工件一次復合磁化。探傷速度快、檢測質(zhì)量。

?O型探頭：也稱環(huán)形探頭，內(nèi)徑:150㎜,中心磁場≥180Oe.重量:3㎏.獨立利用這種探頭制成一臺設(shè)備叫環(huán)形探傷儀，它是利用線圈通電時產(chǎn)生強磁場的原理設(shè)計的，于軸棒類、管道類、葉片類等復雜工件的分段探傷或退磁。

二、技術(shù)性能

1、電源：AC 220V ±10％ 50HZ  5A  

2、輸出：AC  36V 10A 可選配A.D.E.O四種探頭

3、探傷速度： ≥6米/分

4、探頭溫升：≤60℃

5、工作節(jié)拍：建議在長時間連續(xù)工作時：

             充磁時間≤3秒，間隙時間≥2秒

6、外形尺寸：260*140*170mm;

7、儀器重量：約9Kｇ。

三、操作與維修

 使用本儀器前請詳細閱讀本說明書，了解掌握儀器結(jié)構(gòu)和技術(shù)性能，檢查電源與本儀器要求是否相符，連接是否正確，正確無誤后方可接通電源，初次使用或久藏復用前，應(yīng)檢查儀器是否完好。

1． 操作步驟

（1） 將電源插頭線與儀器電源插座接好，探頭和輸出插座連接好。

（2） 接通儀器電源開關(guān)，此時電源指示燈亮，儀器控制電路同時接通，伺服工作。

（3） 將探頭和被檢工件接觸好，按下探頭上的開關(guān)，這時儀器對工件呈磁化狀態(tài)，工作燈亮。松開開關(guān)，則切斷主回路電源，工件停止磁化。

（4） 停止使用時，關(guān)斷儀器電源開頭，切斷電源。

2． 故障檢修

（1） 電源接通無指示、不工作，保險絲熔斷、因短路或過載引起。

（2） 按下開關(guān)，探頭工作，無工作指示，因工作指示燈損壞引起。

（3） 工作指示燈亮，探頭不充磁，主電路或控制電路有故障。

（4） 接通電源，不按充磁開關(guān)即充磁，控制電路或雙向可控硅壞。

晶閘管伏安特性測試儀型號：DBC-026 

簡介 
　　該測試儀是符合國標GB4023-83《半導體器件整流二極管的測試方法》和GB-4024-83《半導體反向阻斷三極晶閘管的測試方法》，能測試各種晶閘管（KP、KK、KA、KS）及晶閘管模塊的VDSM、VRSM、VDRM、VRRM、IDSM、IRSM、IDRM、IRRM與各種整流二極管（ZP、ZK）的VRSM、VRRM、IRSM、IRRM等參數(shù)。線路設(shè)計簡潔精煉，采用單片機控制，具有體積小、重量輕、操作簡單、測試準確、保護可靠和維修方便等特點，是晶閘管及整流管器件生產(chǎn)廠、經(jīng)銷商及整機廠檢測器件伏安特性參數(shù)檢測設(shè)備 
主要技術(shù)指標： 
1．峰值電壓測量范圍：0—6000V/0-9000V  兩種電壓范圍可選 
2．峰值漏電流測量范圍：0—100mA、0—200mA 兩種漏電流可選 
3．峰值漏電流保護設(shè)定范圍：0—99mA、0—198mA 
4．機內(nèi)示波器可觀看動態(tài)峰值電壓與峰值漏電流的變化伏安特性曲線波形 

晶閘管伏安特性測試儀型號：DBC-026 

簡介 
　　該測試儀是符合國標GB4023-83《半導體器件整流二極管的測試方法》和GB-4024-83《半導體反向阻斷三極晶閘管的測試方法》，能測試各種晶閘管（KP、KK、KA、KS）及晶閘管模塊的VDSM、VRSM、VDRM、VRRM、IDSM、IRSM、IDRM、IRRM與各種整流二極管（ZP、ZK）的VRSM、VRRM、IRSM、IRRM等參數(shù)。線路設(shè)計簡潔精煉，采用單片機控制，具有體積小、重量輕、操作簡單、測試準確、保護可靠和維修方便等特點，是晶閘管及整流管器件生產(chǎn)廠、經(jīng)銷商及整機廠檢測器件伏安特性參數(shù)檢測設(shè)備 
主要技術(shù)指標： 
1．峰值電壓測量范圍：0—6000V/0-9000V  兩種電壓范圍可選 
2．峰值漏電流測量范圍：0—100mA、0—200mA 兩種漏電流可選 
3．峰值漏電流保護設(shè)定范圍：0—99mA、0—198mA 
4．機內(nèi)示波器可觀看動態(tài)峰值電壓與峰值漏電流的變化伏安特性曲線波形